021-37780998
制樣設備
易受熱損傷的樣品,也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時間長,有效地抑制了熱損傷。...
用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統制備工具快速、簡單。低能量、低角度(0到6)的氬離子束通過遮光帶照射樣品,大大降低了離子束...
為了滿足市場多樣化的需求,IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺,通過交換各種功能性樣品座實現了功能的多樣化。...
IB-19520CCP在加工過程中利用液氮冷卻,能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續時間長、液氮消耗少的構造設計。在裝有液氮的情況下,也能將樣品快速冷卻、恢復到室溫,并且可以...