JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產品,該設備在性能上有了進一步的提高,無論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分析。...
了解詳情JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術整合在一起,實現了高度穩定性和高分辨率,以精煉的外觀設計呈現。該設備做成了操作流程菜單,按照該菜單,操作人員即使不直接操作設備也...
了解詳情場發射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM 300)配備了冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器(能量過濾器)、側插式液氮冷卻樣品臺和自動樣品交換系統,能夠在冷凍低溫下觀察生物大分子。樣...
了解詳情NEOARM 標配了日本電子獨自開發的冷場發射電子槍(Cold-FEG)和全新的高階球差校正器(ASCOR)。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下,均能實現原子級分辨率的觀察與分析...
了解詳情場發射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標配冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器(能量過濾器)、液氮冷卻樣品臺和12位自動樣品更換系統。新設計的能量過濾器與無孔位相板的完美...
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